Hệ thống PVScope cho phép kiểm tra PL ngoài trời ban ngày phát hiện lỗi tấm pin mặt trời
Ngày 28 tháng 10 năm 2025
Tập đoàn Điện lực Tohoku và Công ty Aites (thành phố Otsu, tỉnh Shiga) đã cùng phát triển PVScope, một hệ thống kiểm tra mới có thể phát hiện lỗi trên tấm pin mặt trời khi chúng đang hoạt động ngoài trời vào ban ngày. Ngày 24 tháng 10, hai bên công bố đã hoàn tất thử nghiệm trình diễn và bắt đầu bán thương mại ngay trong ngày.
Phương pháp kiểm tra phát quang (PL) phát hiện các khuyết tật như khuyết tật tinh thể hoặc hư hỏng tấm silicon bằng cách chiếu ánh sáng lên tấm pin, chụp ảnh và phân tích ánh sáng yếu phát ra từ bên trong. Trước đây, việc kiểm tra PL phải tiến hành ban đêm hoặc trong phòng tối để tránh ảnh hưởng của ánh sáng mặt trời, gây hạn chế lớn về thời gian và địa điểm.
Hệ thống PVScope mới sử dụng cảm biến hình ảnh InGaAs làm mát, có khả năng thu nhận ánh sáng hồng ngoại, cùng camera chuyên dụng có bộ lọc bước sóng đặc biệt, cho phép chụp ảnh PL của tấm pin ngoài trời vào ban ngày. Các hình ảnh thu được được phân tích ngay tại chỗ bằng phần mềm chuyên dụng để phát hiện các khiếm khuyết.
Công nghệ này giúp chẩn đoán tại chỗ ban ngày, có thể kết hợp máy bay không người lái để khảo sát diện tích rộng, rút ngắn thời gian kiểm tra và giảm chi phí bảo trì. Vì quá trình kiểm tra không cần tiếp xúc và không phải làm việc ban đêm, nên cũng nâng cao an toàn lao động và giảm tải cho thiết bị.
Hai công ty bắt đầu hợp tác phát triển từ tháng 4 năm 2021, hoàn thiện hệ thống vào tháng 5 năm 2025 và đã thử nghiệm tại Nhà máy Điện Mặt trời Hachinohe của Tohoku Electric Power.
Aites sẽ chịu trách nhiệm sản xuất và phân phối, với giá bán 16 triệu yên (đã gồm thuế) và mục tiêu lắp đặt tại 50 địa điểm vào năm 2030.
