Phương pháp mới để đo hiệu suất năng lượng của các hệ thống PV hai chiều
Các nhà khoa học Canada đã phát triển một phương pháp mới để đo hiệu suất năng lượng của các hệ thống PV hai mặt. Họ cho biết họ đã xem xét suất phản chiếu quang phổ của lớp phủ mặt đất như tuyết và cát để dự đoán mức tăng năng lượng lên tới 2%, so với tiêu chuẩn của Ủy ban Kỹ thuật Điện Quốc tế (IEC).
Hình ảnh: ET năng lượng mặt trời
Các nhà nghiên cứu từ phòng thí nghiệm Sunlab tại Đại học Ottawa đã nghĩ ra một phương pháp mới để đo hiệu suất năng lượng của hệ thống PV hai mặt. Sự đổi mới này nhằm bổ sung cho tiêu chuẩn đo lường của Ủy ban Kỹ thuật Điện Quốc tế (IEC) được giới thiệu vào năm 2019.
Phương pháp chiếu xạ phía sau được chia tỷ lệ mới (SRI) cải thiện đáng kể các phép đo IEC bằng cách điều chỉnh các tác động của suất phản chiếu quang phổ của các lớp phủ mặt đất khác nhau trong tính toán bức xạ phía sau của hệ thống hai mặt.
Để chứng minh khái niệm này, các nhà khoa học đã lập mô hình hiệu suất của mô-đun năng lượng mặt trời dị thể silicon hai chiều (HJT) theo kỹ thuật chiếu sáng hai chiều IEC và phương pháp SRI. Họ đã gắn hệ thống lên một thiết bị theo dõi một trục nằm ngang cách mặt đất 1,22 mét ở Boulder, Colorado, Hoa Kỳ. Các lớp phủ mặt đất được xem xét là đất, gạch đỏ, cỏ xanh, ván lợp mái nhà, bê tông, cát, cỏ khô và tuyết.
Kết quả cho thấy rằng đối với bức xạ phía sau 200 W/mét vuông, phép đo IEC không phân biệt giữa các lớp phủ mặt đất khác nhau, đánh giá quá cao mức tăng hai chiều từ 14% đến 1,4% đối với tất cả các lớp phủ mặt đất trừ tuyết. Mặt khác, phương pháp SRI cho thấy sự khác biệt rõ ràng giữa các phạm vi điều kiện hoạt động.
Nhà nghiên cứu Erin Tonita cho biết: “Việc triển khai phương pháp này thành các tiêu chuẩn quốc tế cho những tấm pin như vậy có thể cho phép dự đoán hiệu suất của tấm pin hai mặt ngoài trời chính xác trong khoảng 2%.
Theo các học giả, phương pháp mới cũng có thể dự đoán mức tăng năng suất năng lượng ở các địa điểm khác ngoài Boulder với sai số dưới 7%.
Các tác giả cho biết sự đổi mới này có thể được sử dụng để so sánh các công nghệ hai mặt khác nhau và nâng cao hiệu suất hệ thống thông qua tối ưu hóa thiết kế dành riêng cho lớp phủ mặt đất. Họ đã chia sẻ những phát hiện của mình trong "Phương pháp chiếu sáng chung để dự đoán hiệu suất của hệ thống quang điện hai mặt", được xuất bản gần đây trên Joule.
